科研条件
平面粒子测速系统
设备型号 SM3-16M350
主要用途 测量瞬时流场和时均流场
负责人 黄明海
联系方式(电话、邮箱) 027-82927332 hmh_hk@126.com

一、设备简介

粒子图像测速系统(PIV)由数字相机图像系统、双脉冲激光器系统、同步控制器、计算机、PIV分析软件、示踪粒子组成,可用于测量瞬时流场和时均流场。

 

二、主要技术指标

(1)测量流速范围0~4m/s;

(2)速度场采样频率5Hz~20Hz;

(3)流速测量点数错误率小于5%;

(4)全场流速测量均方差小于1%;

(5)示踪粒子,跟随性强且不易聚集,颗粒粒径10μm~50μm,密度:1.0g/cm3~1.05 g/cm3,折射率:1.33。


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