科研条件
平面粒子测速系统 | ||
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设备型号 | SM3-16M350 |
主要用途 | 测量瞬时流场和时均流场 | |
负责人 | 黄明海 | |
联系方式(电话、邮箱) | 027-82927332 hmh_hk@126.com | |
一、设备简介 粒子图像测速系统(PIV)由数字相机图像系统、双脉冲激光器系统、同步控制器、计算机、PIV分析软件、示踪粒子组成,可用于测量瞬时流场和时均流场。
二、主要技术指标 (1)测量流速范围0~4m/s; (2)速度场采样频率5Hz~20Hz; (3)流速测量点数错误率小于5%; (4)全场流速测量均方差小于1%; (5)示踪粒子,跟随性强且不易聚集,颗粒粒径10μm~50μm,密度:1.0g/cm3~1.05 g/cm3,折射率:1.33。 |